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此Socket為IC test socket與Memory test socket的組合，

可快速且便易的替換memory IC，並根據替換的memory進行微調，

同時因與Memory test的組合，IC test能達到最佳的電性特性，因此此測試屬於為低成本高效率的解決方案。

在佳崨，我們的 G3 POP socket的裝置標準已可達到LPDDR5，並且測試速率高達9600Mbps。

此裝置可使用於手測與機測上。